基于前向散射多角度测量的球形颗粒光学常数与颗粒系粒径分布的同时重构方法
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专利申请号:
CN201510603970.5
专利类型:
发明专利
技术分类:
G01N15/02
专利有效期:
2035-09-21
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专利信息
专利名称:基于前向散射多角度测量的球形颗粒光学常数与颗粒系粒径分布的同时重构方法
商品编号:5392963
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申请日期:2015-09-21
公开/公告号:CN105203437A
授权公告日/公开日:2015-12-30
申请/专利权人:
哈尔***大学
发明/设计人:
任亚***和平
主分类号:G01N15/02
IPC分类号:G01N15/02
说明书摘要免费下载摘要
基于前向散射多角度测量的球形颗粒光学常数与颗粒系粒径分布的同时重构方法,属于球形颗粒的物性参数测量技术领域。本发明是为了解决现有常规的测量球形颗粒光学常数与颗粒系粒径分布方法中,不能同时获得二者的测量结果,并且测量结果不准确的问题。它在测量过程中使用两种不同波长的连续激光照射球形粒子系样本表面,借助探测器测量粒子系不同角度内的透射信号,最后通过逆问题求解技术间接得到粒子系的光学常数以及粒径分布情况;它通过建立球形颗粒系不同角度内透射信号测量的正问题和逆问题求解模型,在粒子系的其他参数已知的前提下,提出光学常数与颗粒系粒径分布的同时重建技术。本发明用于球形颗粒光学常数与粒径分布的同时重构。
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