数字市场 专利库 一种同时测量相位和古斯-汉欣位移的方法及装置

一种同时测量相位和古斯-汉欣位移的方法及装置

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专利申请号
CN201610836571.8
专利类型
发明专利
技术分类
G01B11/02(2006.01)I
专利有效期
2036-09-20
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专利信息
专利名称:一种同时测量相位和古斯-汉欣位移的方法及装置
商品编号:5799838
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申请日期:2016-09-20
公开/公告号:CN106247953B
授权公告日/公开日:2016-12-21
申请/专利权人: 中**学
发明/设计人: 张志***刘霞
主分类号:G01B11/02(2006.01)I
IPC分类号:G01B11/02(2006.01)I;G01J9/02(2006.01)I
说明书摘要免费下载摘要

本发明一种同时测量相位和古斯‑汉欣位移的方法及装置,特点是激光束通过偏振分光器后分成两束光TM和TE光,两光束分别通过两个不同驱动频率的声光调制器,产生的两个衍射光进入合光器合成两束光,一束光在光电探测器光敏面上发生干涉形成参考信号;另一束光经过克莱切曼结构后再经过分光器形成两束光,一束光在光电探测器光敏面上发生干涉形成相位测量信号,测量信号和参考信号经带通滤波、相位解调及数据采集和处理后,获得相位的测量值;另一束光经过检偏器,通过调整检偏器先后得到TE和TM光,两光点的位置经数据采集和处理后,得到古斯‑汉欣位移值;本装置能实现对折射率快速变化介质的高精度测量。

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