多个测试记录仪的时基统一系统
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专利申请号:
CN201310062187.3
专利类型:
发明专利
技术分类:
G01D15/00(2006.01)I
专利有效期:
2033-02-23
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专利信息
专利名称:多个测试记录仪的时基统一系统
商品编号:5791404
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申请日期:2013-02-23
公开/公告号:CN103196478B
授权公告日/公开日:2015-08-12
申请/专利权人:
中**学
发明/设计人:
丁永***晋业
主分类号:G01D15/00(2006.01)I
IPC分类号:G01D15/00(2006.01)I
说明书摘要免费下载摘要
本发明公开的多个测试记录仪的时基统一系统属存储测试技术领域,该系统是具有统一时基并由多个测试记录仪构成的,由授时模块、多个计时模块组成,特点在于:授时模块与计时模块具有相同时间计数精度和稳定度,都采用复杂可编程逻辑器件CPLD计数计时,其优点有:本发明的多个测试记录仪可独立下载计时的计数值,方便操作,授时和计时都采用CPLD,计数准确,结构简单,每个测试记录仪的外壳具有屏蔽保护结构,系统抗干扰能力强,是当前大推力火箭发动机性能测试、大口径火炮内弹道测试、大威力炸弹测试等许多高、新、精、尖技术亟需支撑的技术要素和内容,这种多个测试记录仪的时基统一系统值得采用和推广。
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