磁瓦表面微缺陷视觉检测方法
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专利申请号:
CN201810095999.0
专利类型:
发明专利
技术分类:
G06T7/00(2017.01)I
专利有效期:
2038-01-31
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专利信息
专利名称:磁瓦表面微缺陷视觉检测方法
商品编号:5747976
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申请日期:2018-01-31
公开/公告号:CN108230324A
授权公告日/公开日:2018-06-29
申请/专利权人:
浙江***学
发明/设计人:
李**
主分类号:G06T7/00(2017.01)I
IPC分类号:G06T7/00(2017.01)I;G06T7/11(2017.01)I;G06T7/136(2017.01)I;G06T7/62(2017.01)I;G06T7/155(2017.01)I;G06T7/13(2017.01)I;G06T7/64(2017.01)I
说明书摘要免费下载摘要
本发明提供一种磁瓦表面微缺陷视觉检测方法,读取磁瓦图像,检测磁瓦图像缺陷,获取磁瓦图像的缺陷区域K,判断缺陷区域K的面积是否大于设定值1;检测磁瓦图像缺陷,获取磁瓦图像的第二类缺陷效果图,判断第二类缺陷效果图的长度是否大于设定值2;检测磁瓦图像缺陷,获取磁瓦图像的边缘检测图像Q'连通域像素的圆度,判断边缘检测图像Q'连通域像素的圆度是否大于设定值3,三个判断过程可以判断磁瓦是否属于三种类型的缺陷,本发明磁瓦表面微缺陷视觉检测方法对光照变化、磁瓦类型变化适应性强;能对磁瓦的各种不同类型的缺陷都进行检测;本发明获得的磁瓦的缺陷图像比采用传统方法获得的磁瓦的缺陷图像更为清晰准确。
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