数字市场 专利库 用于同步测量磁介质材料介电常数和磁导率的微波传感器

用于同步测量磁介质材料介电常数和磁导率的微波传感器

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专利申请号
CN201910389156.6
专利类型
发明专利
技术分类
G01R27/26(2006.01)I
专利有效期
2039-05-10
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专利信息
专利名称:用于同步测量磁介质材料介电常数和磁导率的微波传感器
商品编号:5713486
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申请日期:2019-05-10
公开/公告号:CN110133375B
授权公告日/公开日:2021-05-07
申请/专利权人: 杭州***大学
发明/设计人: 赵文***高峰
主分类号:G01R27/26(2006.01)I
IPC分类号:G01R27/26(2006.01)I;G01R33/12(2006.01)I
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本发明公开用于同步测量磁介质材料介电常数和磁导率的微波传感器。由顶层至底层包括两个微带线结构、介质层、金属薄片、两个刻槽金属CSRR结构;刻槽金属CSRR结构由内外槽环构成,内外槽环均设有一个开口,且开口朝向均相同;内外槽环开口相对的两直角均对齐内折,外槽环的开口向环内外延伸构成槽沟,其中外槽环开口槽沟之间的部分为磁场强度最大区域,该区域放置待测样品用于测量样品磁导率;内外槽环两个内折直角相接的槽沟之间的部分为电场强度最大区域,该区域放置待测样品用于测量样品介电常数;本发明采用了差分结构的形式,对介电常数和磁导率可做差分测量,采用相对测量的方式排除了环境因素的影响。

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