数字市场 专利库 基于优选空间的SIFT特征快速提取方法、计算机设备以及存储介质

基于优选空间的SIFT特征快速提取方法、计算机设备以及存储介质

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专利申请号
CN202110558502.6
专利类型
发明专利
技术分类
G06V10/46(2022.01)I
专利有效期
2041-05-21
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专利信息
专利名称:基于优选空间的SIFT特征快速提取方法、计算机设备以及存储介质
商品编号:5710045
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申请日期:2021-05-21
公开/公告号:CN113221921A
授权公告日/公开日:2021-08-06
申请/专利权人: 吉**学
发明/设计人: 陈**
主分类号:G06V10/46(2022.01)I
IPC分类号:G06V10/46(2022.01)I
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本发明公开了一种基于优选空间的SIFT特征快速提取方法,包括步骤获取确定优选特征空间的学习样本集;根据学习样本集确定优选特征空间;优选特征空间中的特征空间层按照特征空间层的配准特征数量依次排列;基于优选特征空间,对已知图像以及待匹配图像进行SIFT特征提取和匹配;当已知图像以及待匹配图像的配准特征数量满足预设要求时,待匹配图像匹配成功。先确定学习样本集对应的优选特征空间,优选特征空间中的特征空间层按照特征空间层的配准特征数量依次排列,然后基于优选特征空间,对已知图像以及待匹配图像进行SIFT特征提取和匹配。本申请把SIFT特征的提取与匹配集中在优选特征空间进行,可以显著提高SIFT特征提取与匹配效率。

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