单颗磨粒高速连续划擦试验机的进给轴调平系统及方法
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专利申请号:
CN201610077790.2
专利类型:
发明专利
技术分类:
G01N15/10(2006.01)I
专利有效期:
2036-02-04
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专利信息
专利名称:单颗磨粒高速连续划擦试验机的进给轴调平系统及方法
商品编号:5686129
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申请日期:2016-02-04
公开/公告号:CN105717029B
授权公告日/公开日:2018-08-10
申请/专利权人:
华**学
发明/设计人:
姜峰***西鹏
主分类号:G01N15/10(2006.01)I
IPC分类号:G01N15/10(2006.01)I
说明书摘要免费下载摘要
本发明公开了一种单颗磨粒高速连续划擦试验机的进给轴调平系统及方法,该调平系统包括机床,电主轴,划擦盘,进给轴,激光位移传感器,车削装置等,首先将车削装置固接在进给轴上,划擦盘高速旋转,对划擦盘进行立式车削;然后将激光位移传感器固结在进给轴上,通过进给轴的进给在划擦盘一半径上任意选择两不同点进行测距,并计算出两次测量的距离差;最后是根据测量结果对进给轴的两支承部的高度进行调整。本发明能对进给轴进行精准调平,可用于划擦试验机的进给轴的调平,使进给轴平行于划擦盘的回转平面。有效的保证了单颗磨粒高速连续划擦实验的测试精度,该方法简单便捷,可获得较高的调平精度。
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