密文等值测试方法、装置、电子设备、存储介质及系统
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专利申请号:
CN202010238607.9
专利类型:
发明专利
技术分类:
H04L9/08(2006.01)I
专利有效期:
2040-03-30
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专利信息
专利名称:密文等值测试方法、装置、电子设备、存储介质及系统
商品编号:5674307
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申请日期:2020-03-30
公开/公告号:CN111447059B
授权公告日/公开日:2023-04-28
申请/专利权人:
南阳***院
发明/设计人:
朱慧***青乐
主分类号:H04L9/08(2006.01)I
IPC分类号:H04L9/08(2006.01)I;H04L9/06(2006.01)I
说明书摘要免费下载摘要
本发明实施例提供了一种密文等值测试方法、装置、电子设备、存储介质及系统,该方法包括:基于提取的第一密文的第二密文段、第五密文段以及测试私钥,确定第一密文对应的测试字符串;基于提取的第二密文的第二密文段、第五密文段以及测试私钥,确定第二密文对应的测试字符串;将第一密文对应的测试字符串转换为第一坐标点;将第二密文对应的测试字符串转换为第二坐标点;在第一坐标点与坐标原点构成的直线的第一斜率,与第二坐标点与坐标原点构成的直线的第二斜率相同时,确定第一密文对应的明文与第二密文对应的明文相同;否则,确定第一密文对应的明文与第二密文对应的明文不同。以实现在不对密文解密的前提下,确定出密文对应的明文是否相同。
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