一种自聚焦透镜后截距的测量方法
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专利申请号：
CN201811452923.5
专利类型：
发明专利
技术分类：
G01M11/02(2006.01)I
专利有效期：
2038-11-30
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专利信息
专利名称：一种自聚焦透镜后截距的测量方法
商品编号：5614967
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申请日期：2018-11-30
公开/公告号：CN109596321B
授权公告日/公开日：2019-04-09
申请/专利权人：
苏**学
发明/设计人：
许峰***春蕾
主分类号：G01M11/02(2006.01)I
IPC分类号：G01M11/02(2006.01)I
说明书摘要免费下载摘要
本发明公开了一种自聚焦透镜后截距的测量方法：使用CCD相机采集一组自聚焦透镜不同位置处的图像，光栅尺采集CCD相机采集图像时自聚焦透镜所在位置，并以自聚焦透镜位置信息为文件名保存到指定图库中；切割图像，提取图像中感兴趣区域包括：会聚点区域和自聚焦透镜边缘区域；利用亮度、面积和集中度来确定焦点位置；利用SFR算法来估计不同图像的锐利度，对锐利度进行插值处理，得到自聚焦透镜表面位置；自聚焦透镜表面与焦点位置的差值即为后截距；此方法利用插值算法，提高了后截距测量的精度及测量速度。
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