一种用于TNT检测的立方形纳米金SERS探针的制备方法
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专利申请号:
CN201910692866.6
专利类型:
发明专利
技术分类:
G01N21/65(2006.01)I
专利有效期:
2039-07-30
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专利信息
专利名称:一种用于TNT检测的立方形纳米金SERS探针的制备方法
商品编号:5613683
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申请日期:2019-07-30
公开/公告号:CN110333225B
授权公告日/公开日:2021-06-15
申请/专利权人:
合**院
发明/设计人:
高大***晓晨
主分类号:G01N21/65(2006.01)I
IPC分类号:G01N21/65(2006.01)I;B82Y15/00(2011.01)I;B82Y40/00(2011.01)I
说明书摘要免费下载摘要
一种用于TNT检测的立方形纳米金SERS探针的制备方法,包括晶种金的制备、进一步生长、硅片的功能化修饰和自组装。制备过程如下:首先,是晶种金的制备和进一步生长,其次,通过种子生长机制严格控制其生长环境使其生长为立方形结构,然后,在打磨1×1cm硅片上修饰巯基,使得金粒子单层自组装在硅片的表面,最后,在硅片的表面修饰上富电子的氨基,进一步与TNT目标分子中的三个缺电子硝基通过静电相互作用,实现对TNT选择性识别,利用纳米金表面的局域等离子共振场,将TNT分子的常规拉曼信号放大增强,实现对TNT的痕量检测,检测限为10mol·L。本发明制备简单,操作方便,成本低廉,选择性好,灵敏度高。
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