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一种天线结构天文辐射效应分析方法

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专利申请号
CN201810564590.9
专利类型
发明专利
技术分类
G06F30/23(2020.01)I
专利有效期
2038-06-04
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专利信息
专利名称:一种天线结构天文辐射效应分析方法
商品编号:5597278
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申请日期:2018-06-04
公开/公告号:CN108959711A
授权公告日/公开日:2018-12-07
申请/专利权人: 长**学
发明/设计人: 刘*
主分类号:G06F30/23(2020.01)I
IPC分类号:G06F30/23(2020.01)I;G06F119/08(2020.01)N
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本发明提供一种天线结构阴影区域划分方法及天线结构天文辐射效应分析方法,其中,天线结构阴影区域划分方法通过确定高程极值点将天线结构反射面分成阴影区域和非阴影区域,准确实现天线结构区域划分;本发明的天线结构天文辐射效应分析方法,充分考虑对流换热系数、辐射换热表面系数和三角形单元表面太阳辐射强度的影响因素,得到每个划分单元的综合温度,实现天文辐射效应的精准分析。

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