一种用于集成电路板测试点布局方法

本发明公开了一种用于集成电路板测试点布局方法，该方法包含如下步骤：根据集成电路板的面积大小、同一功能的测试点数量，选定测试点模块位置；根据选定所述测试点模块位置的面积大小、同一功能的测试点数量，在所述集成电路板上布局所述测试点模块；根据所述测试点模块的面积大小、测试点数量，制作与其匹配的测试针模块。本发明提供的一种用于集成电路板测试点布局方法，将集成电路板上的测试点按照功能模块化布局；约定每个测试点到相邻的测试点距离相同，使得集成电路板上的测试点区域看起来整齐规律，使得调试人员在一个功能模块内，便于找到该功能的各个测试点。