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一种定量相位测量方法、装置和系统

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专利申请号
CN201810019504.6
专利类型
发明专利
技术分类
G01B11/24
专利有效期
2038-01-09
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专利信息
专利名称:一种定量相位测量方法、装置和系统
商品编号:5558499
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申请日期:2018-01-09
公开/公告号:CN108180867B
授权公告日/公开日:2020-11-03
申请/专利权人: 深**学
发明/设计人: 彭翔***晓利
主分类号:G01B11/24
IPC分类号:G01B11/24
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本发明提供一种定量相位测量方法、装置和系统,涉及光学成像技术领域。其中,该方法包括:获取多个离焦距离下待测物体的离焦全息图,根据多个离焦全息图,得到待测物体的复振幅分布,由复振幅分布计算待测物体的系统相位分布,并从系统相位分布中提取待测物体的相位分布。采用多个离焦全息图,即可得到待测物体的相位分布。不但避免频谱选择和引入相移单元,而且避免对待测物体的假设和预先系统知识的获取,进而使测量得到的相位准确,操作简单。

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