荧光多分子定位方法、装置以及超分辨成像方法、系统
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专利申请号:
CN201710190997.5
专利类型:
发明专利
技术分类:
G06T3/40
专利有效期:
2037-03-24
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专利信息
专利名称:荧光多分子定位方法、装置以及超分辨成像方法、系统
商品编号:5558240
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申请日期:2017-03-24
公开/公告号:CN106952233B
授权公告日/公开日:2020-03-31
申请/专利权人:
深**学
发明/设计人:
于斌***军乐
主分类号:G06T3/40
IPC分类号:G06T3/40; H04N19/60; H04N19/97; G01N21/64
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本发明公开了荧光多分子定位方法、装置以及超分辨成像方法、系统,其中,所述荧光多分子定位方法通过采集多个荧光分子通过光学系统的荧光图像;之后对所述荧光图像进行傅里叶变换,获得所述荧光图像的傅里叶频谱;对所述荧光图像的傅里叶频谱进行解卷积运算,并根据解卷积之后的图像构造相应的傅里叶字典;之后基于所述傅里叶字典和解卷积之后的图像,根据正交匹配追踪算法计算多个荧光分子的坐标位置,采用基于频域压缩感知的正交匹配追踪算法实现多分子纳米定位,具有更快的计算速度,大大减少重构所需的时间。
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