一种磁粉探伤机的可控硅同步触发采样电路
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专利申请号:
CN202120668435.9
专利类型:
实用新型
技术分类:
G01N27/84
专利有效期:
2031-04-01
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专利信息
专利名称:一种磁粉探伤机的可控硅同步触发采样电路
商品编号:5540154
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申请日期:2021-04-01
公开/公告号:CN214503448U
授权公告日/公开日:2021-10-26
申请/专利权人:
盐***院
发明/设计人:
许怡***永建
主分类号:G01N27/84
IPC分类号:G01N27/84
说明书摘要免费下载摘要
本实用新型公开了一种磁粉探伤机的可控硅同步触发采样电路,用于采集BC相电的正弦波形,通过变压,整形然后送入MCU,所述MCU检测到跳沿信号后,判断为零点位置,开始PID计算延时时间,并发出触发脉冲到可控硅引脚,可控硅工作,包括依次连接的INPUT端、二极管D1、抗干扰单元和电压比较器以及与MCU引脚相连的OUTPUT端,通过二极管D1、抗干扰单元和电压比较器组成,进行同步触发采样,能使得波形完整,且触发起点准确,避免同步触发脉冲的起点不为零,其中,本实用新型中通过二极管D1限制流入电压比较器的电压小于阈值,防止烧毁电压比较器,抗干扰单元保证给电压比较器一个高电平,有效解决电网忽然变化带来的干扰。
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