一种激光探伤装置及激光探伤方法
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专利申请号:
CN202111344646.8
专利类型:
发明专利
技术分类:
G01N21/21
专利有效期:
2041-11-15
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专利信息
专利名称:一种激光探伤装置及激光探伤方法
商品编号:5439416
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申请日期:2021-11-15
公开/公告号:CN113791035A
授权公告日/公开日:2021-12-14
申请/专利权人:
滨**院
发明/设计人:
杨**
主分类号:G01N21/21
IPC分类号:G01N21/21; G01N21/01
说明书摘要免费下载摘要
本申请实施例公开了一种激光探伤装置,属于无损探伤技术领域,第一激光器用于产生脉冲激光;第二激光器用于产生连续激光;第一分光件用于将连续激光分解为连续测量激光和连续对比激光;测量光路调节回路用于接收连续测量激光以及调整连续测量激光的光路;对比光路调节回路用于接收连续对比激光以及调整连续对比激光的光路;探测组件;其中,脉冲激光用于扫描被测物表面用于引起被测物同频振动;连续测量激光用于扫描被测物表面,且在叠加被测物的振动后形成连续反射激光,被测物反射连续反射激光;连续反射激光与连续对比激光发生干涉形成干涉激光,探测组件用于接收干涉激光的光强并转换为电信号,其能够探测被测物表面以及内部的缺陷。
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