一种荧光粉性能测试系统以及测试方法

本发明公开一种荧光粉性能测试系统及其测试方法，系统包括真空样品室、测试平台、抽真空装置、高压电源、激励源、采集光纤、单色仪、单光子计数器和数据处理器。测试平台包括阴极支架和样品支架，FED阴极片设置于阴极支架上，样品片设置于样品支架上，且样品片上的样品测试区位于FED阴极片上的阴极测试区上方，高压电源输出端可分别向阴极片和样品片输出高低电位，以实现模拟FED激励；激励源可选择真空紫外光源或者电子枪，作用于样品测试区，使得样品发光，从而使得采集光纤采集到发光信号，经单色仪、单光子计数器和数据处理器处理后得到与待测荧光粉相关的性能数据。本发明的测试系统可适用于采用多种激励源的荧光粉性能测试方法，操作简便，测试效率和精度较高。