基于积分时间调整的红外焦平面阵列盲元检测方法
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专利申请号：
CN201110223261.6
专利类型：
发明专利
技术分类：
G01J5/02
专利有效期：
2031-08-05
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专利信息
专利名称：基于积分时间调整的红外焦平面阵列盲元检测方法
商品编号：5377928
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申请日期：2011-08-05
公开/公告号：CN102410880B
授权公告日/公开日：2013-06-19
申请/专利权人：
重庆***学
发明/设计人：
代少***黄俊
主分类号：G01J5/02
IPC分类号：G01J5/02
说明书摘要免费下载摘要
本发明请求保护一种基于积分时间调整的红外焦平面阵列盲元检测方法，属于信号探测技术领域。针对传统的基于标准黑体辐射源的盲元检测方法依赖昂贵黑体和固定暗室的条件限制，不能根据需要随时随地进行盲元检测，提出一种通过CPLD编程灵活方便的调整红外焦平面阵列在不同积分时间下的响应输出值，根据响应输出值计算各个探测单元的响应率，依据盲元定义检测盲元。记录不同积分时间下的探测单元响应输出值、盲元检测及盲元补偿。本发明方法实施过程简单，在IRFPA盲元检测中具有应用和推广价值。
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基于积分时间调整的红外焦平面阵列盲元检测方法专利，专利类型：发明授权，技术分类是：G01J5/02，购买基于积分时间调整的红外焦平面阵列盲元检测方法专利，需要申请人和发明人的基础信息，还需提供基于积分时间调整的红外焦平面阵列盲元检测方法专利的详细信息。
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