一种数字芯片故障检测系统及其检测方法

本发明公开了一种数字芯片故障检测系统，待测数字芯片的VDD引脚、GND引脚分别通过继电器模块与电源模块的+5V引脚和GND引脚连接，各输入引脚、输出引脚分别通过模拟选择开关与电源模块的+5V引脚和GND引脚连接。单片机通过控制继电器模块、模拟选择开关，使待测数字芯片的任一引脚与+5V电源、GND端中的任一指定位置连接。本发明还公开了一种数字芯片故障检测方法，通过流经VDD引脚和GND引脚的电流大小判断待测引脚是否存在短路、开路故障，根据待测数字芯片的逻辑输出判断待测数字芯片是否存在逻辑功能故障。本发明检测速度快、检测成本低、检测结果可靠。