数字市场 专利库 一种基于声光调制的光谱测量装置及光谱测量方法

一种基于声光调制的光谱测量装置及光谱测量方法

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专利申请号
CN201310706216.5
专利类型
发明专利
技术分类
G01J3/433
专利有效期
2033-12-19
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专利信息
专利名称:一种基于声光调制的光谱测量装置及光谱测量方法
商品编号:5352455
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申请日期:2013-12-19
公开/公告号:CN103728019B
授权公告日/公开日:2015-10-21
申请/专利权人: 南京***学
发明/设计人: 杨涛***刘辉
主分类号:G01J3/433
IPC分类号:G01J3/433
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本发明公开了一种基于声光调制的光谱测量装置,属于光学测量技术领域。本发明的光谱测量装置包括沿入射光方向依次设置的声光调制器、光探测器。本发明还公开了一种基于声光调制的光谱测量方法,首先测量不同声场强度下光探测器所检测到的光功率,并以得到的光功率数据作为增广矩阵,结合所述光探测器在不同声场强度下对不同频率入射光的探测率所组成的系数矩阵,建立线性方程组;对该线性方程组求解,得到待测入射光中各频率分量的光功率,然后对其进行线性拟合,并经光谱辐射定标,得到待测入射光的光谱。相比现有技术,本发明具有抗振动能力强、分辨率高、光谱测量范围宽等显著优点。

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