基于散射效应的太赫兹波谱测量装置及其测量方法
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专利申请号:
CN201610020854.5
专利类型:
发明专利
技术分类:
G01N21/49
专利有效期:
2036-01-13
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专利信息
专利名称:基于散射效应的太赫兹波谱测量装置及其测量方法
商品编号:5351735
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申请日期:2016-01-13
公开/公告号:CN105572076B
授权公告日/公开日:2018-11-30
申请/专利权人:
南京***学
发明/设计人:
杨涛***浩培
主分类号:G01N21/49
IPC分类号:G01N21/49
说明书摘要免费下载摘要
本发明公开了一种基于散射效应的太赫兹波谱测量装置及其测量方法。待测太赫兹波经由散射器件后形成太赫兹频率的散射波,散射波在散射控制器的不同控制条件作用下被探测器所接收;散射器件可令不同频率的入射太赫兹波形成不同的散射波强度角分布,散射控制器用来改变透过散射器件的太赫兹散射波在探测器位置处的散射场分布,使得固定频率的入射太赫兹波在散射控制器不同控制条件作用下被探测器所接收到的散射波强度互不相同;计算处理单元用来接收探测器的测量结果,并进行数据分析和处理。本发明的太赫兹波谱测量装置相比现有的太赫兹时域波谱测量装置具有体积较小、易于制作、成本相对低廉,且频率分辨率高、光谱测量范围宽等优点。
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