一种从静电力显微镜探测图像中提取表面电势信号的方法
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专利申请号:
CN201711325080.8
专利类型:
发明专利
技术分类:
G01N27/60
专利有效期:
2037-12-13
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专利信息
专利名称:一种从静电力显微镜探测图像中提取表面电势信号的方法
商品编号:5351112
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申请日期:2017-12-13
公开/公告号:CN108195921B
授权公告日/公开日:2020-06-23
申请/专利权人:
南京***学
发明/设计人:
许杰***金泽
主分类号:G01N27/60
IPC分类号:G01N27/60; G01Q60/30; G06F30/23
说明书摘要免费下载摘要
本发明公开了一种从静电力显微镜探测图像中提取表面电势信号的方法,包括:利用静电力显微镜探测试样表面,获得试样的二维静电力显微探测图像;利用格林函数理论和有限元数值计算方法,建立静电力显微信号与试样表面电势信号之间的定量卷积模型;利用数字信号处理方法对建立定量卷积模型离散化,及利用维纳滤波方法对二维静电力显微探测图像反卷积处理获得频域空间试样表面电势与静电力显微信号之间的关系式,并进行二维傅立叶逆变换获得试样的表面电势信号。本发明充分考虑到探针侧壁的影响,因此建模更加准确,且具有一定的普遍性,适用于表面电势信号不随时间变化的测试对象。
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