一种智能芯片检测系统及检测方法

本发明公开了一种智能芯片检测系统及检测方法，包括平台，平台的下端设置有测电机构，测电机构的一侧设置有移动机构，移动机构上设置有转动机构，转动机构上设置有夹持机构，本发明所达到的有益效果是：下移滑杆通过连接杆带动两个竖杆下移，两个竖杆带动两个撑板下移，进而接触对转板的支撑，然后拨动拨动块带动插块从第一固定槽内部移出，进而解除固定轴与转板的固定，然后转动转板带动芯片转动到固定框内部，放开拨动块通过第一弹簧推动插块插接在第二固定槽内部，使转板受到固定，使芯片与接电槽相对应，使芯片在固定之前一直将触点朝上设置，防止在移动芯片时芯片的触点朝下设置与桌面发生碰撞。