数字市场 专利库 一种提高数控机床光栅测量系统测量精度的方法

一种提高数控机床光栅测量系统测量精度的方法

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专利申请号
CN201310648348.7
专利类型
发明专利
技术分类
B23Q17/24
专利有效期
2033-12-04
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专利信息
专利名称:一种提高数控机床光栅测量系统测量精度的方法
商品编号:5333864
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申请日期:2013-12-04
公开/公告号:CN103737435B
授权公告日/公开日:2016-01-06
申请/专利权人: 安徽***学
发明/设计人: 杨洪***金华
主分类号:B23Q17/24
IPC分类号:B23Q17/24; G06F17/50
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本发明公开了一种提高数控机床光栅测量系统测量精度的方法,光栅测量系统通过单个螺钉固定在数控机床各向溜板与其光栅测量系统安装位置处于同一直线上的热变形临界点的位置上,其两端采用限制上下摆动的浮动支撑结构,能够减小甚至消除数控机床溜板的热变形对光栅测量系统热变形误差产生的附加影响,并通过测量光栅测量系统的热变形误差,建立精确的光栅测量系统热误差预测模型,可以代入利用现有数控机床误差补偿技术建立的误差补偿模型中,实现对光栅测量系统热变形引起的零位漂移误差和示值误差进行精确补偿。

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