一种便于更换的半导体测试探针
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专利申请号:
CN202022117359.0
专利类型:
实用新型
技术分类:
G01R1/067
专利有效期:
2030-09-24
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专利信息
专利名称:一种便于更换的半导体测试探针
商品编号:5315321
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申请日期:2020-09-24
公开/公告号:CN214041489U
授权公告日/公开日:2021-08-24
申请/专利权人:
西安***公司
发明/设计人:
王*
主分类号:G01R1/067
IPC分类号:G01R1/067; G01R31/26
说明书摘要免费下载摘要
本实用新型公开了一种便于更换的半导体测试探针,包括安装板和固定座,所述安装板底部固定安装有固定座,所述固定座下表面固定镶嵌有DC母插,所述DC母插内腔活动插接有DC公插,所述DC公插底部活动连接有探针,所述探针底部活动插接有伸缩探针,所述探针顶部固定连接有二号支撑弹簧。本实用新型探针顶部通过DC公插与DC母插插接连接,且DC公插与DC母插可使探针在使用时进行360度转动,在连接时,不需要特定的安装角度,可使对探针的安装更加的便捷,伸缩探针可进行伸缩,从而避免在测试的过程中,对探针施加的压力过大造成检测点的损坏,使用更加的安全。
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一种便于更换的半导体测试探针专利,专利类型:实用新型,技术分类是:G01R1/067,购买一种便于更换的半导体测试探针专利,需要申请人和发明人的基础信息,还需提供一种便于更换的半导体测试探针专利的详细信息。
专利交易转让时间是多久?
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