全站仪多方位坐标测量方法
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专利申请号:
CN201810874762.2
专利类型:
发明专利
技术分类:
G01C15/00
专利有效期:
2038-08-03
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专利信息
专利名称:全站仪多方位坐标测量方法
商品编号:5151225
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申请日期:2018-08-03
公开/公告号:CN109115191B
授权公告日/公开日:2020-07-31
申请/专利权人:
华南***学
发明/设计人:
赵祚***赖琪
主分类号:G01C15/00
IPC分类号:G01C15/00; G01B11/00
说明书摘要免费下载摘要
本发明公开了一种全站仪多方位坐标测量方法,所述方法包括:在多体机械结构上建立全局坐标系和局部坐标系,并选定全局坐标系下的至少三个第一坐标点以及局部坐标系下的至少三个第二坐标点;将单台全站仪分多个方位放置,保持各个坐标点的位置不变,利用该全站仪测量每个方位的各个坐标点的位置,以及测量每个方位的各个坐标点的斜距、水平角和垂直角,并将斜距、水平角和垂直角转化为全站仪坐标,从而得到从全站仪坐标系到全局坐标系的第一转换矩阵,以及全局坐标到局部坐标的第二转换矩阵,最后选择误差最小的一个方位测量结果。本发明实现了用单台全站仪对待测坐标点进行多方位测量,可获得相对来说误差小的结果,从而实现高精度的目的。
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