一种基于三轴转台对全站仪位姿测量结果的精度校验方法
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专利申请号:
CN201910012478.9
专利类型:
发明专利
技术分类:
G01C25/00
专利有效期:
2039-01-07
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专利信息
专利名称:一种基于三轴转台对全站仪位姿测量结果的精度校验方法
商品编号:5150986
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申请日期:2019-01-07
公开/公告号:CN109682399A
授权公告日/公开日:2019-04-26
申请/专利权人:
华南***学
发明/设计人:
赵祚***振宇
主分类号:G01C25/00
IPC分类号:G01C25/00
说明书摘要免费下载摘要
涉及一种基于三轴转台对全站仪位姿测量结果的精度校验方法,在三轴转台上设置外轴和中轴的三组姿态角度,定为三个姿态,初始位置定于三轴转台中心的世界坐标与定在外轴、中轴上的局部坐标重合,分别在外轴和中轴上测出n个控制点的局部坐标,求出转动后的控制点的新的世界坐标:用全站仪测三轴转台初始位置以及转过三组角度后的相同控制点的全站仪坐标系下的坐标,求出全站仪坐标到三轴转台世界坐标的位姿关系,求出所有控制点的在转动三组角度后的世界坐标;通过三轴转台与全站仪两种方法得到的控制点的不同姿态下的世界坐标对比分析得出测量精度。本发明对全站仪测量计算控制点世界坐标的精度进行校验,属于工程测量技术领域。
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