数字市场 专利库 一种FDD-LTE基站电磁辐射变化周期检测方法
一种FDD-LTE基站电磁辐射变化周期检测方法

一种FDD-LTE基站电磁辐射变化周期检测方法

注：上述费用仅包含专利权利转让费用，不包含专利年费或因年费未及时缴纳产生的滞纳金、恢复费。专利年费是专利权人依照专利法规定，自被授予专利权的当年开始，在专利权有效期内逐年应向专利局缴纳的费用。由于出售的专利类型、专利年限以及专利权人是否满足国家费用减缓的条件均会影响具体年费金额，需根据购买专利的实际情况进行缴纳。缴纳年费以及滞纳金、恢复费需单独和平台顾问确认且不属于下单后加价行为，故无法适用保障。
专利申请号：
CN201810454864.9
专利类型：
发明专利
技术分类：
H04B17/318
专利有效期：
2038-05-14
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专利信息
专利名称：一种FDD-LTE基站电磁辐射变化周期检测方法
商品编号：5129562
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申请日期：2018-05-14
公开/公告号：CN108923870B
授权公告日/公开日：2021-02-09
申请/专利权人： 湘**学
发明/设计人： 杨万***艳芬
主分类号：H04B17/318
IPC分类号：H04B17/318; H04B17/336; H04B17/345; G01R29/08
说明书摘要免费下载摘要

本发明公开了一种FDD‑LTE基站电磁辐射变化周期检测方法，其步骤如下：将FDD‑LTE基站电磁辐射强度时间序列f(t)代入周期变换公式进行变换，获得不同尺度下的周期变换系数W(a)，再将求得的FDD‑LTE基站电磁辐射序列周期变换系数W(a)的平方进行积分，得到周期变换系数W(a)的方差序列Var(a)，然后再将求得的方差序列Var(a)求导，当导数为0时所对应的a，即为FDD‑LTE基站电磁辐射变化存在的主要周期。本发明分析了FDD‑LTE基站电磁辐射变化周期检测的方法，该方法能够有效的对FDD‑LTE基站电磁辐射变化周期进行检测，具有一定的社会效益。

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