一种具有防堵塞功能的集成电路测试仪器

本发明公开了一种具有防堵塞功能的集成电路测试仪器，包括机壳、护垫和转动杆，所述机壳的一侧表面设置有引线接口，所述引线接口的相邻一侧设置有测试口，其中，所述引线接口和测试口的外侧设置有防尘盖，所述连接槽远离凸柱的相邻位置和机壳顶部的一侧开设有卡槽，所述护垫通过卡条连接在卡槽内，所述转动杆贯穿连接在盘齿的内部，所述转动杆伸出齿轮盒的外侧一端连接进支架内部的螺纹孔中。该具有防堵塞功能的集成电路测试仪器设置有防尘盖，通过转动机壳一侧的防尘盖，使得防尘盖通过转轴进行旋转，当防尘盖将机壳一侧的引线接口和测试口位置遮挡时，使得防尘盖将外界的灰尘等杂质排除在外，从而防止接口位置受到堵塞。