一种具有防尘功能的集成电路测试仪器

本发明公开了一种具有防尘功能的集成电路测试仪器，包括墙壁、仪器主体、第一弹簧和第二弹簧，所述墙壁的一侧固定有固定架，所述仪器主体位于固定架远离墙壁的一侧，其中，所述仪器主体靠近固定架的一侧四角固定有支脚，所述仪器主体远离支脚的一侧设置有防尘盖，所述仪器主体靠近防尘盖的较短一边两侧开设有挡板槽，所述仪器主体靠近挡板槽的顶部开设有连接杆槽，所述连接杆槽与挡板槽相连通，所述第一弹簧固定在挡板槽的底部。该具有防尘功能的集成电路测试仪器，设置有防尘盖，在测试仪器使用完成后，将防尘盖盖在仪器主体上，通过防尘盖对仪器主体进行防尘，避免灰尘附着在控制面板与检测连接头上，便于对测试仪器进行防尘处理。