隧穿场效应晶体管及其制作方法
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专利申请号:
CN201510128390.5
专利类型:
发明专利
技术分类:
H01L29/78
专利有效期:
2035-03-23
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专利信息
专利名称:隧穿场效应晶体管及其制作方法
商品编号:4896255
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申请日期:2015-03-23
公开/公告号:CN104779292B
授权公告日/公开日:2018-01-09
申请/专利权人:
华为***公司
发明/设计人:
吴昊***赵静
主分类号:H01L29/78
IPC分类号:H01L29/78; H01L21/336
说明书摘要免费下载摘要
本发明公开了一种隧穿场效应晶体管及其制作方法,属于场效应晶体管技术领域。所述隧穿场效应晶体管包括:两端分别设置有第一掺杂区域和第二掺杂区域的衬底;衬底上形成有鱼鳍形凸起的沟道区域,保护层,侧墙形状的沟道刻蚀硬掩膜层结构,栅极绝缘介质层;形成有栅极绝缘介质层的衬底上形成有第一栅极和第二栅极,且第一栅极和第二栅极分别位于沟道区域的两侧;形成有第一栅极和第二栅极的衬底上形成有绝缘材料填充层;第一掺杂区域与第二掺杂区域的掺杂区域间隔预设距离,预设距离大于沟道区域的宽度且小于衬底的长度。本发明解决了EHB‑TFET结构通用性较低的问题,实现了提高通用性的效果,用于控制器件的开启与关闭。
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