一种集成电路测试用随机抽取装置

本发明涉及一种随机抽取装置，尤其涉及一种集成电路测试用随机抽取装置。本发明要解决的技术问题是提供一种省时省力、抽取科学、有利于合格率准确计算的集成电路测试用随机抽取装置。为了解决上述技术问题，本发明提供了这样一种集成电路测试用随机抽取装置，包括有收集筐等；收集筐右侧设置有支架，支架中部设置有通孔，通孔位于收集筐上方，支架中部转动式设置有导向板，导向板位于通孔内，支架顶部设置有移动装置，移动装置底部连接有夹紧装置。本发明达到了省时省力、抽取科学和有利于合格率准确计算的效果，本装置利用控制器和计时器，可以根据抽取需要设置间隔时间，同时控制器可以使整个抽取过程智能化。