数字市场 专利库 提高检测准确性的检测微粒大小及形状的光学系统

提高检测准确性的检测微粒大小及形状的光学系统

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专利申请号
CN201410717955.9
专利类型
发明专利
技术分类
G01N15/02
专利有效期
2033-07-22
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专利信息
专利名称:提高检测准确性的检测微粒大小及形状的光学系统
商品编号:22891
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申请日期:2013-07-22
公开/公告号:CN104458510B
授权公告日/公开日:2016-08-24
申请/专利权人: 南**学
发明/设计人: 戴兵***银男
主分类号:G01N15/02
IPC分类号:G01N15/02; G01B11/24
说明书摘要免费下载摘要

本发明公开了一种提高检测准确性的检测微粒大小及形状的光学系统,激光束经光纤均匀化处理后,形成均匀性良好的平行光束,并通过合理的光路布局沿球面腔镜系统主轴方向射入到旋转对称椭腔镜内,与样气流汇聚于旋转对称椭腔镜的一焦点,样气流沿垂直于系统主轴方向导入,粒子前向散射光信号被一光电倍增管接受,用以作为粒子大小测量的主要信号。除前向以外的散射光在大角范围**向旋转对称椭腔镜的另一焦点,在此焦点后的物镜像平面上置一面形CCD,主要用于检出粒度的形状信息。本发明布局巧妙,结构合理,工作效果好。

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