数字市场 专利库 一种基于一比特采样的SAR欺骗干扰产生方法及系统

一种基于一比特采样的SAR欺骗干扰产生方法及系统

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专利申请号
CN201710051048.9
专利类型
发明专利
技术分类
G01S7/38
专利有效期
2037-01-23
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专利信息
专利名称:一种基于一比特采样的SAR欺骗干扰产生方法及系统
商品编号:5558733
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申请日期:2017-01-23
公开/公告号:CN106772280A
授权公告日/公开日:2017-05-31
申请/专利权人: 深**学
发明/设计人: 赵博***张亮
主分类号:G01S7/38
IPC分类号:G01S7/38
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本发明公开了一种基于一比特采样的SAR欺骗干扰产生方法及系统,方法包括:获取SAR发射的信号与预定阈值进行比较,根据比较结果生成一比特采样序列;获取要产生的若干个虚假点的散射系数的瞬时斜距差,量化为离散的瞬时斜距差单元,根据瞬时斜距差单元获取一维距离像;将一比特采样序列与一维距离像进行卷积运算生成欺骗干扰向量;根据欺骗干扰向量的逐点与预先产生的噪声阈值的比较结果生成一比特序列;将一比特序列进行放大,并向需要被干扰的SAR进行转发;在不同的脉冲重复间隔内,重复上述步骤,产生聚焦的欺骗干扰目标。本发明大大降低了欺骗干扰卷积调制的计算量与运算复杂度,降低了SAR欺骗干扰机的成本,欺骗干扰效果好。

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